局部放電測試系統試驗回路的一般要求,敘述了幾種用于測量局部放電參量的基本試驗回路,并介紹了這些回路和系統的工作原理。有關(guān)技術(shù)委員會(huì )還可以推薦用于特殊試品的特殊試驗回路。只要可能,建議有關(guān)技術(shù)委員會(huì )用視在電荷作為被測參量,但對特殊情況也可以使用別的參量。
如果有關(guān)技術(shù)委員會(huì )未作規定,則4.2所述的任何試驗回路以及第5章中所規定的任何測量系統均可使用。
試驗回路,用于局部放電測量的大多數回路可以由圖1a)~圖1d)所示的基本回路演變而來(lái)。圖2和圖3表示這些回路的一些變化,每個(gè)回路的組成主要有:
a) 試品,通常被認為是一個(gè)電容器Ca(參見(jiàn)附錄D)。
b)耦合電容器Ck(應設計為低電感電容),或第二個(gè)試品Cn1(類(lèi)似于試品Ca)。在規定的試驗電壓下Ck或Ca1均應具有足夠低的局部放電水平,以便對規定的局部放電值進(jìn)行測量。如果一個(gè)測量系統能夠區分并分別測量來(lái)自試品和耦合電容器中的局部放電,那么允許Ck或Ca1具有較高的局部放電水平。
c)帶輸人阻抗的測量系統(對平衡回路,還需要第二個(gè)輸入阻抗)。
d)背景噪聲足夠低的高壓電源(見(jiàn)第6章和第7章),以便在規定試驗電壓下對規定的局部放電值進(jìn)行測量。
e)背景噪聲足夠低的高壓連接(見(jiàn)第6章和第7章),以便在規定試驗電壓下對規定的局部放電值進(jìn)行測量。
f)有時(shí)在高壓端接人一個(gè)阻抗或濾波器,以減小來(lái)自供電電源的背景噪聲。
注:對于圖1~圖3所示的局部放電基本試驗回路,其測量系統的耦合裝置也可放在高壓端,即耦合裝置與Ca或Ck交換位置;這時(shí)可用光纜來(lái)連接耦合裝置和測量?jì)x器,如圖1a)所示。
不同試驗回路的其他情況及特性可參見(jiàn)附錄C和附錄H。
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