如何在不改變電路的情況下測量接觸電阻

一種新的方法將解決它。這種方法對于測量復雜機械組件中的接觸電阻非常有用。接觸電阻定義為觸點(diǎn)兩端的電壓與流過(guò)一對閉合觸點(diǎn)的電流之比。它符合歐姆定律。金屬 1 和金屬 2 之間有一個(gè)接口。來(lái)自電流源的電流 I 流過(guò)這個(gè)接口，可以從電流表中讀取。然后可以從電壓表讀取接口上的電壓降到 U。然后可以計算接觸電阻值Rx。

　　Rx=U/I

　　由于接觸電阻隨環(huán)境和電流的通過(guò)而變化，因此測量條件應接近使用條件。準確的測量必須使用四端測量技術(shù)和熱電動(dòng)勢消除技術(shù)。這種間接測量方法可用于測量接觸電阻或回路電阻。它需要三個(gè)測試點(diǎn)、三個(gè)步驟和三個(gè)公式。該方法已被證明是正確的，也可用于校準回路電阻標準。

　　接觸電阻測試的典型方法

　　四線(xiàn)（開(kāi)爾文）直流電壓降是使用微歐表進(jìn)行接觸電阻測試的典型方法，通過(guò)消除自身的接觸電阻和測試引線(xiàn)的電阻來(lái)確保更準確的測量。

　　接觸電阻測試使用兩個(gè)電流連接進(jìn)行注入和兩個(gè)電位引線(xiàn)進(jìn)行電壓降測量；電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接，并始終位于由連接的電流引線(xiàn)形成的電路內。

　　基于電壓降的測量，微處理器控制的微歐表計算接觸電阻，同時(shí)消除連接中熱電動(dòng)勢 效應可能產(chǎn)生的誤差（熱電動(dòng)勢是兩種不同金屬連接在一起時(shí)產(chǎn)生的小熱電偶電壓）如果不是通過(guò)不同的方法（極性反轉和平均，熱電動(dòng)勢的直接測量），它們將被添加到測量的總電壓降中。幅度等）從測量中減去它們，這會(huì )在接觸電阻測試中引入誤差。

　　如果在使用低電流測試斷路器接觸電阻時(shí)獲得低電阻讀數，建議在更高電流下重新測試接觸。為什么我們會(huì )受益于使用更高的電流？較高的電流將能夠克服端子上的連接問(wèn)題和氧化，在這些條件下，較低的電流可能會(huì )產(chǎn)生錯誤（較高）的讀數。

　　在接觸電阻測試中保持一致的測量條件非常重要，以便可以將其與以前和未來(lái)的結果進(jìn)行比較以進(jìn)行趨勢分析。因此，在進(jìn)行定期測量時(shí)，必須在相同的位置、使用相同的測試線(xiàn)（始終使用制造商提供的校準電纜）和相同的條件下進(jìn)行接觸電阻測試，以便知道何時(shí)連接、連接、焊接或設備將變得不安全。