低壓成套開(kāi)關(guān)設備的介電性能試驗應根據各回路額定絕緣電壓分別進(jìn)行試驗。應將那些不能耐受這種試驗電壓的電器元件(如電子設備、電容器等)從電路中拆除。 施加試驗電壓的時(shí)間和方法：出廠(chǎng)試驗為1s點(diǎn)試。型式試驗為1min，施加電壓從30%～50%的試驗電壓開(kāi)始，約5s升到規定值。1min后將試驗電壓逐漸降到零。
如果設備已經(jīng)過(guò)一次耐壓試驗，而需再試驗時(shí)，電壓應降到規定值的85%，試驗時(shí)間為11s。
試驗電壓施加部位：
(1)主電路帶電部件與地(框架)之間：
(2)主電路各相之間；
(3)主電路與不同它直接連接的輔助電路之間；
(4)輔助電路與地之間；
(5)不同電壓等級的輔助電路之間。
試驗電壓值應符合有關(guān)標準的規定值。
用絕緣材料做成或用絕緣材料覆蓋的部件。如門(mén)，隔板、絕緣母線(xiàn)、手柄等，可用金屬箔包覆絕緣層在其與導電部件間施加上述(1)～(5)部位相應規定值的1.5倍的電壓值。試驗過(guò)程中，沒(méi)有發(fā)生絕緣擊穿，表面閃絡(luò )或電壓突然下降，則試驗合格。
