低壓成套開(kāi)關(guān)設備的溫升試驗可以分為電路及裝置的試驗。溫升試驗是驗證設備在正常使用條件下，通以額定電流，各部分的溫升值應符合有關(guān)標準的規定。裝在裝置內部的操作手柄，其溫升允許略高些。除非另有規定，對可以接觸但正常工作時(shí)不需觸及的外殼和覆板，允許其溫升提高10K。設備按正常使用情況放置，門(mén)、鎘板、覆板、蓋板都應裝好。試驗方案應選擇損耗最大的方案。進(jìn)行單獨電路的溫升試驗時(shí)，電路應通以設計規定的額定工作電流。進(jìn)行裝置的溫升試驗時(shí)，在考慮了額定分散系數后，應選擇一個(gè)或幾個(gè)有代表性的并能獲得高溫升的電路，給這些電路通以各自設計規定的額定工作電流。試驗時(shí)輔助電路(包括繼電器、接觸器、脫扣器的線(xiàn)圈)應加上設計規定的額定工作電壓。裝置中如果包含有熔斷器，試驗時(shí)應裝上適合于試驗的熔體(由制造廠(chǎng)規定)。熔體的功率損耗、試驗中所用的外接導體(導線(xiàn))尺寸和布置情況應寫(xiě)入試驗報告中。
測量部位包括：
(1)母線(xiàn)連接處以及其他元器件與母線(xiàn)的連接處。
(2)抽屜式設備的母線(xiàn)室、功能單元室和電纜室的空間。
(3)可觸及的門(mén)、手柄和覆板。
以上三種部位均應盡量選產(chǎn)生溫升高點(diǎn)進(jìn)行測量。當溫度變化不超過(guò)1℃／h時(shí)，則可記錄其溫升值。其值應不超過(guò)有關(guān)標準的規定值。裝置內絕緣沒(méi)有破壞，元器件在設備內的溫度條件下正常工作，則溫升試驗合格。
