高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)作特性測試儀檢定裝置的結構原理

　高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)作特性測試儀檢定裝置是用于校驗高壓開(kāi)關(guān)測試儀時(shí)間測量功能的專(zhuān)業(yè)儀器，本文中將為大家介紹高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)作特性測試儀檢定裝置的結構原理。

　　高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)作特性測試儀檢定裝置的總體結構主要包括微處理器、交/直流輸入轉換、模/數轉換、識別電路、精密時(shí)基電路以及人機友好界面顯示等部分，在硬件平臺的基礎上，配備的軟件編輯，囊括了計算機技術(shù)、數字信號處理技術(shù)、檢測技術(shù)等，能夠的完成對高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)特性測試儀電量輸出參量、開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)間參量等功能的校驗工作。

　　由校驗裝置總體結構可知，該校驗裝置中主要通過(guò)兩個(gè)處理通道來(lái)完成校驗任務(wù)。一個(gè)是將電壓信號輸出送到衰減電路中，然后再送入A/D轉換電路中，通過(guò)光耦再送到MCU中進(jìn)行運算處理，后通過(guò)LCD顯示結果，從而完成對高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)特性測試儀電量參量的校驗。另外一個(gè)開(kāi)關(guān)動(dòng)作信號通過(guò)輸入電路調整為本電路相匹配的信號，然后輸送到識別電路，轉換成MCU可以識別出的數字信號，經(jīng)過(guò)光耦后由MCU進(jìn)行運算處理，對處理后的結果執行相應動(dòng)作，然后對外輸出控制信號，以完成對開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)間參量的校驗。人機友好界面主要包括液晶顯示器和操作按鍵。